Βαθμονόμηση φορητής συσκευής XRF με πρότυπα υλικά

Abstract

Η τεχνική του Φθορισμού των Ακτινών-Χ είναι μια καθιερωμένη αναλυτική τεχνική που χρησιμοποιείται σήμερα σε ένα ευρύ φάσμα διεπιστημονικών εφαρμογών. Τα ιδιαίτερα χαρακτηριστικά της τεχνικής XRF είναι ο ταυτόχρονος και γρήγορος προσδιορισμός στοιχείων από όλον σχεδόν τον περιοδικό πίνακα (Ζ=14-92), αλλά και η μεγάλη ευαισθησία στην ανάλυση με ανιχνευτικά όρια που κυμαίνονται συνήθως στην περιοχή των μg/g(ppm). Ως χαρακτηριστικές εφαρμογές της μεθόδου θα μπορούσαν να αναφερθούν όλα τα αρχαιοϋλικά καθώς έχει το πλεονέκτημα της μη καταστροφικής ανάλυσης των αρχαιολογικών αντικειμένων και έργων τέχνης. Μετρήθηκαν επανειλημμένα 17 υλικά αναφοράς (standards) που προέρχονται από διεθνείς εταιρίες. Συγκεκριμένα τα υλικά ήταν G94 (Μικρογρανίτης), αιθάλη στάχτης CFA (Coal Fly Ash), αργιλόχωμα Bonn std, πηλότουβλο BC (Brick Clay)- SRM 679, ουρανιούχο μετάλλευμα DL1a-(U/Th)-Ores, JG2-JG3 (Silicate Rocks), AC-E, Οψιανός Takayama Japan, Οψιανός TW005D, μετάλλευμα ουρανίου BL4, ασβεστόλιθος CALS, σκωρία JSS902, δολερίτης, μικρογρανίτης, ηφαιστειακή τόφος OU1-2-3. Σχηματίσθηκαν γραφικές παραστάσεις ομοίων ζευγών χημικών στοιχείων ανά κατηγορία υλικών και στατιστικός βαθμός εμπιστοσύνης στην καλλίτερη καμπύλη προσαρμογής στα σημεία για τα χημικά στοιχεία: Ca,Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Rb, Sr, Y,Zr, Nb, Ni, Cu, Zn, Sr, Y, Nb, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Pb, Bi. Ορισμένα στοιχεία έδωσαν ικανοποιητική ευθεία παλινδρόμησης με καλή στατιστική, ενώ η διαδικασία μέτρησης παίζει σημαντικό ρόλο στην ακρίβεια των μετρήσεων.